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光片表面磨光质量检测校正光学仪器
耀光和杂散光及其校正
任何不需要而进入视野的光统称耀光，主要由透镜表面反射及透
镜框散射而产生，耀光可分为耀光和第二耀光，耀光为
物镜透镜表面反射及镜框散射后直接射入视野的光。对于一套校
正好的仪器，耀光为常量，只须测出它产生的光电流减去即
可。方法是物台上不放光片而放一吸收所有入射光的黑绒套，
开灯后测定此时视野内的光强，设所产生的光电地油浸中测定
时，使物镜前端浸在盛油的黑暗中测定的耀光。
由于光片表面磨光质量不良，有裂纹，测定暗矿物时测区距亮矿
物太近等，因而产生的一些射入倍增管的有害光为杂散光。杂散
光是测定区之个的光，但它射入了倍增管，因而引起误差。
这种误差不可能定量的计算消除，只能采用下述步骤使之尽量减
小：（A)选择最完美的测定区域；(B)测区距裂隙尽量远些；
(C)测区尽量远离邻近的明亮矿物，可以靠近比被矿物更暗的矿物。
光片表面在机械磨光时常产生一层厚约1微米的薄膜，它由极细
晶体或非晶体质组成。此膜对反射力的影响很复杂，可能使之太
高或太低。此膜金属与合金最厚，金属矿物次之，煤与透明矿物
最薄，为除去此膜，可采用电解抛光法或化学机械磨光法。
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