在线留言
网站地图 
RSS
您好，欢迎访问老上光仪器总厂网站！
联系地址：北京市海淀区上地信息路信息产业三街
联系电话 
152 0116 0776 / 400-811-7895
电子束为电子显微镜观察样本的光源
扫瞄式电子显微镜(Scanning Electron Microscope , SEM)
利用阴阳两极之间电压差来加速电子，并用电磁线圈聚焦和控
制电子束进行方向，即电子束为电子显微镜观察样本的光源。当电
子束撞击样本时产生反射电子(back-scattered electrons)及次生
电子 (secondary electrons)，利用两者的明暗对比，以显示样本
试验机
本研究采用的试验机，其加压范围有 2 吨、10 吨、50 吨及 200 吨等四种自动
压力调整功能，
压汞式孔隙分析仪(Mercury Intrusion Porosimetry , MIP)
利用油压将汞贯入水泥浆体中，藉由贯入压力与贯入量来估测
浆体中的孔径分佈情形
X 光绕射分析仪(X-ray Diffraction , XRD)
利用高速电子枪射击铜靶激发出 X 光，再以此 X 光对待测粉末
进行绕射，依其不同角度所呈现的强度来进行成份分析，
网站网友点击量更高的文献目录排行榜：
点此链接
关注页面底部公众号，开通以下权限：
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官主账号！ 
客服1