门头沟使用背散射电子观察样品标本
作者: 发布时间:2022-07-02 19:10:52点击:356
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使用背散射电子观察样品标本
我们在对背散射电子使用时对样品标本表面进行观察,则
发现背散射电子对样品标本的原子序数是十分敏感的。
这就是说当电子束垂直的入射时所产生的通常随着增加机
单调上升,但是与入射电子的能量的关系不是太大。
这样一来我们就发现背散射电子不仅仅能够反映出样品标
本表面微区成分的特征,就是反映出平均原子序数分布情
况。
同时还可以出形貌特征的一种类似于物理信息,因此对于
背散射电子的信号调制图像的可定性的反映出样品的微区
成分分布与表面形貌。
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