门头沟透射电子与特征X射线
作者: 发布时间:2022-07-02 19:10:52点击:350
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透射电子与特征X射线
在这里我们所说透射电子来说,则需要样品标本是非常薄
的,而样品标本厚度则需要比入射电子的一个有效的穿透
深度小得多。
在这样的情况下有相当一部分的入射电子穿透样品标本表
面而形成一个透射电子,对于这种透射电子可以放置于样
品下面的电子检测器进行检测。
而对于透射电子的信号的强度则取决于微区厚度、成分、
晶体的结构以及晶体的晶向等等。
而对于特征X射线来说则是一个样品中原子的内喜忧参半
电子受到入射电子的一个激发电离时,原子处在一个能量
比较高的状态下使得外层电子向内层电子的位置进行跃迁。
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