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朝阳光学显微镜成像Wan Hao工具显微镜说明书

作者: 发布时间:2022-07-02 17:42:55点击:1086

信息摘要:

大家好,这里是老上光显微镜知识课堂,在这里你可以学到所有关于显微镜知识,好的,请看下面文章:VTM-15101510G/

大家好,这里是老上光显微镜知识课堂,在这里你可以学到所有关于显微镜知识,好的,请看下面文章: VTM-15101510G/1510G1510G/1510F/15101510151050G/15101510151015101510151015101510151050GB处理二维测量是主要的方法,我们将全心全意为您服务。
    
     用途:图像工具显微镜是一种集光、机、电、软件于一体的高精度、高效率的显微测量仪器,广泛用于电子元器件、精密模具、精密工具、弹簧、塑料、橡胶、油封阀、照相机等行业。零件、汽车零件、PCB加工等。二维测量是主要的方法,三维辅助测量也可以。它也可以用目镜测量螺距、外径、齿角、直尺、刀具和其他工件的尺寸或轮廓。标准透镜,用于测量工件表面状态、测量角度和长度。此外,它还可用作观察显微镜,通过相对测量来检测工件的表面粗糙度。机械、电子、仪器仪表、钟表、轻工、塑料工业、计量室、高校实验室、研究所、计量检定部门。
    
     特点:VTM系列图像工具显微镜具有多种数据测量、显微放大、显示、输入输出数据处理功能,利用Windows图像窗口的专用测量软件QMS3D-M可进行自动找边操作。它不需要编程,可以用鼠标点击来测量。该方法简单、方便、可行。
    
     产品名称:VMS-4030G万豪图像测量仪{产品规格}:万豪二次图像测量仪、万豪二次图像测量仪、万豪二维图像测量仪、东莞万豪二坐标测量仪{详细信息}本仪器适用适用于机械、电子、仪器仪表、塑料等双坐标测量的所有应用领域。产品广泛应用于产品说明:13彩色CCD相机变焦镜头放大倍率0.7~4.5X规格参数:
    
     本系列测量软件是我公司开发的Windows 2-D测量应用软件。它可以可视化的二维测量坐标,并可用于各种工具和模具的逆向工程。
    
     QIM5008软件用于自动成像仪,具有自动对焦、夹具测量、自动加倍(可选)和地图导航等特殊功能。QIM3008软件用于手动成像、特殊辅助聚焦和自动变焦(可选)功能。QV100软件是一个简化版本。图像测量软件。
    
     根据需要在显示点删除较大的误差,可以打印形状公差图,查看公差属性。
    
     用途:本仪器适用于两坐标测量的所有应用场合。它广泛应用于机械、电子、仪器仪表、塑料等行业。
    
     软件应用:本系列测量软件是我公司开发的多传感器测量应用软件。它可以直观地分析和检测二维测量的坐标。它还可以用探针测量三维几何元素。该软件广泛用于手机、模具、电子、通讯、机械、五金、塑料、仪表、钟表、PCB、LCD等精密制造行业。里亚尔包括金属、塑料、橡胶、玻璃、PCB、陶瓷等。
    
     (1)提供成像和探头测量功能;(2)提供辅助聚焦、多种测量和构造方法;(3)提供扫描功能。
    
     常用功能:(1)提供图像和探针来测量各种基本几何元素,如点、线、圆、弧、椭圆、矩形、键槽、平面等。(2)可以输出Word、Excel报表和AutoCAD文件。(3)具有专业的SPC统计功能,有效的QC控制。(4)软件界面直观,操作方便。(5)提供了强大方便的用户测量程序。(6)完全支持WIN7系统和19英寸宽屏显示。(7)支持双显示和多语言界面切换。(8)提供简单。汉语、汉英三种语言界面。
    
     1。目的保证图像测量仪在测量过程中输出有效、准确的检测结果,对产品的测量做出可靠的判断,延长仪器的使用寿命。
    
     3.岗位3.1只有经过培训合格的人员和授权,才能操作本仪器。严格按照本规定进行试验操作。3.2操作人员应负责本仪器的使用状态和测量的有效性和准确性。结果。
    
     操作步骤4.1打开计算机主机和显示电源开关,进入Windows XP操作界面,双击图像仪器软件的图标,进入软件操作界面。例如,将CDD相机上的旋转装置旋转,以选择合适的倍数(0.65,1,2)与zui,对象较小时可以选择高速操作。
    
     4.3刻度校准:首先打开底灯(必要时打开顶灯),将光学标准片放在载体玻璃板上,通过旋转X、Y轴控制手柄使标准片上的X、Y轴与系统上的X、Y轴重合,直到系统协调为止。进入红线闪烁,然后单击菜单上的校准,barScale即可与系统匹配。校准后,请将标准片退回校准盒。根据测量要求选择投射的底光或顶光,通过旋转Z轴升降手柄将图像调整到Zui清晰度,然后采取几种常见的操作说明,例如4.5端面距离测量:4.5.1焦距测量长度调整:根据4.4步,将测量的产品图像调整到Zui清晰度。4.5.2元素测量:单击工具面板上的绘图,单击多点绘图线(或双点绘图线),然后取产品投影轮廓线上的点(取poi)。用左脚下部放大的区域nt查看该点是否被带到适当的点,右键单击以生成线元素;按相同的方法找到线元素的另一端;
    
     测绘时,应注意地图元数据区域的位置。4.5.3维:完成绘图说明后,单击工具面板上的标签,根据情况选择两行间距的标签模式图标(如果是水平线或v线)。选择对准标签,选择其他线性标签,根据下面的提示选择基线,选择第二行元素,选择标签位置,单击左按钮,完成标注。4.6孔径测量:4.6.1。焦点调整:根据4.4个步骤调整产品的图像至ZUI清晰度。4.62.元素映射:单击工具面板上的绘图,单击多点圆(或3点圆),然后在产品投影轮廓线上选择均匀分布的点(选择的点越多,测量精度越高,但Zui低于3点),在Zui,right-点击完成圆元素映射。4.63.尺寸标注:完成图纸说明后,单击工具面板上的注释,然后左键单击直径标注说明。选择注释位置,然后单击左键完成直径标注工作。角度测量:4.7.1。焦点调整:根据4.4个步骤调整产品的图像至ZUI清晰度。4.7.2。元素映射:在工具面板上单击绘图,单击多点绘图线(或双点绘图线),在产品投影中依次投影被测点的轮廓,右键单击生成一个线性元素;同样方法找到另一个线性元素。尺寸:完成绘图指令后。单击工具面板上的注释,然后单击角度注释指令。根据提示选择*线元素,然后选择第二线元素,选择注释的位置,Zui,然后按左键t结束注释.4.8位置测量:4.8.1焦距调整:根据4.4步将产品图像调整到Zui清晰度.4.8.2元素映射:根据建立坐标系的需要,映射出相应的点元素或线元素.4.8.3coo坐标系建立:点击菜单栏上的坐标设置,出现坐标设置下拉菜单,选择合适的方式建立坐标系:根据左下角的提示,依次选择每个元素点或线,完成坐标系系统设置.4.8.4元素提取:根据测量要求,对被测元素进行映射,并将结果显示在元素测量结果栏中。
    
     第五,软件之间的转换根据需要,如有必要,将测量绘图元素转换成CAD软件进行编辑和处理。5.1点击菜单栏中的文件,选择保存为DXF格式,并将其保存在指定的磁盘中。5.2退出VMM2.2A系统,点击在WindowsXP界面上的AutoCAD2004图标并输入CAD操作系统。5.3选择CAD操作界面上的菜单栏中的文件,出现下拉菜单,然后选择步骤5.1中保存的DXF文件,并将其加载到CAD系统中进行所需的操作。首先分析软件VMM2.2,然后退出XP操作系统,然后关闭ZUI后的仪器电源。
    
     7.操作注意事项7.1待测物体应轻微处理,以免损坏仪器的玻璃加载级。7.2每次调整放大倍数,应重新校准刻度。d组合左下脚的放大区域以观察这些点是否被带到适当的位置,并且这些点应该是均匀的和不可重复的。
    
     1。仪器应放置在清洁干燥的房间(室温205℃,湿度小于60%),以避免光学零件表面污染、金属零件锈蚀、灰尘和杂质落入移动导轨,影响仪器的性能。
    
     4。工作台玻璃和油漆表面脏,可用水和洗涤剂清洗,切勿用有机溶剂擦拭油漆表面,否则油漆会失去光泽。
    
     6。仪器的精密部分,如图像系统、工作台、光尺、Z轴传动机构等,需要调整。所有调节螺钉和紧固螺钉都固定了。客户不得自行拆卸。如有任何问题,请通知厂家解决。
    
     7。软件对工作台和光尺的误差进行了的补偿,否则会产生错误的测量结果。
    
     8。仪器的所有电连接器不应该拔出。如果已经拔出,螺钉必须根据标记正确插入并拧紧。不正确的插入和轻影响仪器的功能,而重的系统可能损坏系统。
    
     图像法是利用中心显微镜的标记对图像进行瞄准和定位的方法,在测量时,分隔板上的标记通常瞄准测量件图像的边缘,在读数显微镜上读出数值,然后移动工作台瞄准ot。她的侧面的测量片图像具有相同的标记,然后进行二次读取。两个读数之间的差别是被测部分的测量值。
    
     轴切法是利用中心显微镜的标记对测量零件的轴线和测量刀上的标记进行瞄准和定位的测量方法,测量刀是一万件工件的附件,在刀具表面有一条刻线。边缘的雕刻线的尺寸是0.3和0.9毫米。测量时,测量刀放在测量刀垫上。刻面通过测量片的轴线,测量刀的切削刃与测量面紧密接触。两个测量刀的刻线之间的距离通过指向相应的测量线间接测量。测量工件的值。
    
     为了避免计算,两组四条对称分布的平行线被刻在中间垂直米线的两侧,每个中心线与中心线的距离为0.9和2.7毫米,这正好是测量工具的边缘与直线之间的距离的三倍。在分度板上的0.9和2.7毫米标记压在测量刀上的0.3和0.9毫米标记上,测量刀的边缘由米线的中线指向,主要用于测量螺纹节径。
    
     接触法是利用中心显微镜的标记瞄准和定位与光学测孔仪测量头相连的双刻线的一种测量方法。
    
     测量时,光孔测试仪的探头靠近零件(内外)表面,当测量孔径时,探头首先与测量件的内孔接触,在得到左弦的长度后,套上测量线的中线。在中间由两组光孔测量装置的线组成,在读数显微镜中读出数字,然后改变测量方向,使探头与另一侧的测量片接触,并制作出米线分隔板的中线。两套光学孔还在中间,在读数显微镜上读出另一个数字。两个读数之间的差值以及探针直径的实际值是测量片的内部尺寸。如果探针直径的实际值被减去,则是测量块的外部尺寸。
    
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