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老上光仪器总厂

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导电粒子干涉显微镜

西城导电粒子DIC观察显微镜JX-25A

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DIC导电粒子显微镜工业检测显微镜适用于对工件表面的组织结构与几何形态进行显微观察。采用优良的无限远光学系统与模块化功能设计理念,可以方便升级系统,微分干涉(DIC观察等功能,导柱升降装置,可以快速调整工作台与物镜之间的距离,适用于不同厚度工件检测。

 

 

仪器特点

1. 专业DIC技术,平场半复消色差物镜,整个视野干涉色彩均匀,图像清晰。

2. 专业应用于LCD、OLED、PCB、FPC、FPD领域。

 

仪器参数


序号

名称

参数

1

平场半复物镜

标准10倍,可选5倍、20倍

2

光学放大

10倍光学放大系统

3

相机

500万HDMI成像系统

4

照明系统

科勒照明,带DIC可调装置

5

可选照明系统

40瓦蓝光照明(或白光)

6

移动台

移动范围:50*50mm

7

联想品牌机

天逸510

8

主机重量

毛重:3.3kg 净重:2.2kg

10倍-带水.jpg














20倍-1-带水.jpg

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