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西城透射电子显微镜观察试样制备工艺简介

作者: 发布时间:2022-07-02 20:42:58点击:1461

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大家好,这里是老上光显微镜知识课堂,在这里你可以学到所有关于显微镜知识,好的,请看下面文章:透射电子显微镜观察试样制备工

大家好,这里是老上光显微镜知识课堂,在这里你可以学到所有关于显微镜知识,好的,请看下面文章:
透射电子显微镜观察试样制备工艺简介

    透射电子显微镜观察所需要的薄片需要特殊的制备工艺,
一般需要用很薄的超薄片,其厚度取决于矿物的吸收系数和人射电子能。
在100 kV要求的厚度为1一0.3μm。电压为1 MeV时,厚度为1μm。
样品制备过程是先将块状样品切割成薄片,

将其一面磨平并抛光,用光学树脂胶(热熔性胶)将样品光面粘在载玻片上,

研磨至小于0.03 mm左右的薄片,抛光样品表面。
然后在光学显微镜和立体显微镜下,选择合适的目标矿物颗粒。
用环氧树脂胶在目标样品上粘一个透射电镜专用铜环。固化后,
在酒精灯火焰上烤熔样品和载玻片之间的光学树脂胶,取下目标样品。

要获得超薄片最有效的办法是离子减薄法,将样品放人离子减薄仪

在高真空的条件下用氢离子轰击,进行离子减薄,直至在样品中心

穿孔,并出现薄区。然后镀上碳膜即可在TEM电子显微镜下对超薄片
或击穿孔薄片的边缘部分进行观察。观察时要求迅速快捷,
以防电子辐射损伤严重影响图像
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