西城显微镜测量颗粒图像-直线切割测量方法简介

作者：发布时间：2022-07-02 20:42:28点击：1083

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大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章：显微镜测量颗粒图像-直线切割

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显微镜测量颗粒图像-直线切割测量方法简介

有的显微镜既不是通过目镜利用其中的显微刻度尺，

也不是将颗粒像通过投影放大或拍成照片后测量其粒度，

而是使显微镜中光束分裂;形成可移动的颗粒双像。

通过调节，使这两个颗粒投影像由重合沿着测长方向

分离到恰好相对边缘相邻接，据此可以测出颖粒尺寸。

以颗粒投影像的某种线度作为其粒度，在第二章中曾介绍

过一些不同的规定。在实际测量中，也可以结合线计法抽样，

测量沿一定方向对颗粒像截得的线段长度作为其粒度，

这种粒度可称为直线切割法

粒度

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