西城材料样品的形貌、结构和成分等信息分析电子显微镜

作者：发布时间：2022-07-02 20:33:36点击：476

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材料样品的形貌、结构和成分等信息分析电子显微镜

当材料样品厚度小于入射电子的有效穿透深度时，还会有相

当数量的电子透过薄样品而成为透射电子，透射电子显微镜（

（tunnel- ing electron microscope ，TEM ）就是利用这种电

子工作的。

可以利用直接透射电子获得样品的明场透射电子显微图像

（bright field TEM image）、或聚焦得到反映样品品体结构信

息的电子衍射图样（elec- tron diffraction patten ），也可

利用弹性散射电子获得样nnn 的暗场透射电子显微图像（dark field

TEM image ），而利用透射非弹性散射电子包含的能量损失信息

可以检测微区样品的化学组分。

因此，材料样品的形貌、结构和成分等信息也可在现代透射

电镜中同时获得。透射电镜比扫描电镜分辨率和放大倍数高，不

过，其操作较复杂，样品制备也繁复。

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