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电路板显微影像分析测量用图形显微镜
在进行标准电测试时，对被测器件的侧试通常只在任何瞬态现象之后器件趋于稳
定所必需的时期内进行.记录下所测的参数或功能，然后进行下一步的测试。此外，
如果器件是在施加50V电压的条件下测试，就无须表征该器件随着外加电乐增加到
5ov所表现出的特性。当在其工作温度范围内测试器件时，通常只在室温及其额定的
更高与更低温度下对该器件进行侧试，一般不会去表征在整个温度范围内温度连续变
化情况下该器件的特性。
当进行故障分析的电测试时，在所加偏置的所有中间值条件下测试器件的特性
十分很要，而不应只取典型的和更大额定的偏置条件。在某些偏置条件下，器件可
能表现出间歇性的电气特性，这种特性在施加正常偏置或更大额定偏置的条件下是
检测不到的。
在整个温度范困内一面改变温度，一面对i)UA进行测试尤其重要。有些器件故
障是由于材料之间的机械性能不一致所造成，这种不一致性随温度的变化而加剧。如
果一种材料吸收热量的速度快于另一种材料，则不一致性有可能在温度转变期问达到
更大。因此，器件可能只在这种转变期间才失效。但是，在更高更低温度下持续加热
期间，两种材料将达到同样的温度，不一致性可能减小。由于标准的电测试通常是在
持续加热期间的更高更低沮度下进行的，因此它不能检测出这种间歇性的故障。
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