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各实验组对比用图像计量光学显微镜厂商
在二维图像上看到的是薄板结构的断面。经常有人直接测量
断面的宽度，把它当成薄板的厚度。例如测量突触前后膜之间的
间隙，桥粒和缝隙连接的厚度等。实际上，只有切片与膜垂直相
切割，断面宽度才等于薄板结构的厚度，一般而言，前者总是大
于后者。
从断面宽度计算薄板厚度有两种方法，一是算术平均法，二
是调和平均法。
在二维图像上看到的是薄板结构的断面。任选薄板的一个表面
为标准，这个面的截线与侧试线有一些交叉点。从这些点向薄板的
对侧截线作垂线。
在形态定量分析中，遇到三种误差，即系统误差、测量误差
与抽样误差。应区别对待。
系统误差指由于某种原因使参数总是偏大或总是偏小。例如
上面讲到的样品收缩，总是使颗粒的数密度偏大，而颗粒的体讯
总是偏小。又如小截面漏计效应，切片厚度的影响
颗粒大小不均匀的影响，如不加校正，都会使参数偏离真实值。
对于系统误差，凡是能校正的，尽量校正。不能校正的，只好作罢。
如果某一因素对各实验组的参数有基本机同的影响，就是未加校正，
也不妨碍对比实验做出的结论。
客服1