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光学分析测量仪器以约以1%的精度进行测定
X射线光谱分析法
以上阐述了电子或X射线照射到物质上时，该物质吸收
电子或X射线所具有的能量后，放出该元素固有的特征X射线。
此特征X射线不论该物质是化合物还是单一物质均与之
无关.这是由于分析用的X射线与原子核的近层电子有关.所
以很据物质放出的X射线的波长求出元素的种类，根据射线
的强度求出物质的成分比.用这种方法对物质成分进行非破
坏性分析就是X射线光谱分析。
以X射线为激发源时，将这种方法称为X射线荧光分析，
但此种分析可将X射线照射的部位局限于很小的范围，所以
可进行微区域分析。但是，当用X射线激发时，入射的X射
线的波长，一定要比放射出来的X射线的波长短.此外所产
生的X射线又被其他元素所吸收。由于产生这些复杂现象，
须采用各种修正措施，但能以约以1%的精度进行测定。
与化学分析等方法相比，这种方法的优点是时间短、精度高。
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