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各种单晶光纤光学器件对晶纤材料提出不同
各种单晶光纤光学器件对晶纤材料提出不同的要求，其中吸收
光谱和光学均匀性是晶纤材料的一个重要的光学特性，它们直接影
响器件的质量.如角作微型单晶光纤激光器的晶纤材料，不但要求在
泵浦光源波长范围内有宽的吸收带，使泵浦光的光能量得到充分利
用，而且在其发射波长处透明，使其在激光波长处无吸收。同时要求
直接影响激光器效率和阀值的散射损耗愈小愈好，因此，地测量
光损耗，不仅便于选择高质量的晶纤材料，而且还可用于研究损耗与
晶纤生长条件之间的关系，以便确定制备晶纤材料的更佳生长条件。
X射线能谱仪能测量各种元素产生的特征X射线的波长和强
度.根据波长确定被检测的元素(定性分析)，由相应谱线高度经过校
正计算，可确定所含元素的相对含量(定量分析).能谱仪的更大优点
是:在观察试样显微图象的同时，能快速地对样品的微区中所含元素
进行定性和定量的分析.
样品制备。在进行观察前，先将样品用酒精擦拭，由于晶纤为
绝缘体，为了消除试样带电现象，将试样表面蒸镀一属金，镀金厚度
约为200A。然后用导电胶把镀金的晶纤样品贴在样品架上，即可进
行观察。
选择加速电压20keV，调节放大倍数到聚焦和衬度更好.观察晶
纤形貌及用EDS进行微区分析。
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