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测量晶粒大小的应用,矿石分析图像显微镜
测量晶粒大小的重要应用可以铬矿为例，其图形在原点处有
独特特征。希腊矿石显示出一个粗的晶体结构，而某些从其他地
方来的矿石则显示出差不多是无定形的图形。石英岩的X射
线测定通常是肯定了显微镜的观察，但是它可能另外显示出某些
较大的石英晶体有严重崎变或者实际上是在略有差别的取向上排
列着大量的小晶体。这些观察解释了为什么看起来是粗晶体的石
英岩却显示相当高的转化速率。
差不多只出现在炉渣中。用x射线沿着左上方光学显微镜图象中
标出的白线对铁进行扫描，显示了铁在炉渣中和边界层内的浓
度，也显示出铁含量在含有未溶晶体的镁颗粒内的变化。对钙的
扫描表明它在边界层只有少量的存在，(虽然这在x射线图象中
很难见到)。在右侧图片的扫描峰值与镁颗粒的位置有相对应的
关系。镁的扫描是很令人感兴趣的，它不仅揭示了在一个颗粒内
部镁成分的变化，而且也表明镁扩散进入了边界层，同铁和钙形
成了一种化合物。在镁砂颗粒中也发现了铬，在边界层中很少。
而硅只是在炉渣中出现。在陶瓷方面应用EPMA还能举出其他
的例子，但是用EPMA研究特殊材料，其效果是更好的。
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