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光学显微镜分辨显微结构的尺寸，外形结构
用光学显微镜分辨显微结构的尺寸，往往是可能的.由于金
属是不透明的，必须把它们放在竖直的显微镜下靠反射光进行观
察.为此，样品须先磨平，然后进行(机械、化学或电解)抛光，使之
成为光学平面.抛光面在显微镜下一般应呈现光滑，而且颜色一
致.为了区分各种显微结构的组成部分，采用各种各样的技术以
产生(或加强)各组成的衬比.产生样品表面特殊变化的一个方法
是蚀刻.除了凭经验的化学蚀刻以外，有几种可以重复的物理方
中，各组成物由于移去的材料的量不同而显示出差别
则说明利用表面气相淀积的薄膜界面对光的反射能力不同而显示
出差别.晶体学平面显示出来.在竖直反射光的显微镜下，取向的晶粒向
不同的方向反射光，因而表现出不同的亮度.如果反射的点阵平
面是已知的，便可定出样品中晶粒(即各晶体)的取向.所谓“取
向”系指晶体点阵与样品外形结构(表面，长轴)的相对位置.
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