西城表面作附加加工的粗糙度测量工具显微镜
作者: 发布时间:2022-07-02 20:12:20点击:403
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表面作附加加工的粗糙度测量工具显微镜
分析摩擦面时,特别重要的是要能够用既不“损坏”表面又
不需要对表面作附加加工的方法来进行研究。能透过电子显微镜
的发射光谱学和吸收光谱学提供了这种可能性。因此,光栅电子
显微镜以及各利,衍射法是主要的研究方法。在这种情况下.由于
有上面所指出的一些特点,X射线照相法是量合用的能提供信息
的衍射法。在研究发生很大的塑性变形、破坏、成分变化和结构
变化的摩擦面时.X射线法是无与伦比的。
无论是高而尖的微凸体,还是非常平滑的微凸体,在摩擦力
的作用下均将趋于某一中间值。如果明显地看出高而尖的微凸体
在突部上所产生的高应力作用下变得平滑,那就需要专门研究导
致具有平滑微凸体的光滑面发生破坏的原因。
为了说明光滑面是不可能实现的,我们提出了“缺膜”假
说。这一假说基于摩擦面上必定具有保护膜。并考虑了生成薄膜
和磨损*过程的时间(它与粗糙度有关)。
生成薄膜可以靠外界的液相或气相来实现。
对液相来说,向磨损面供应润滑剂的机理还不太清楚。它可
能具有扩散性,也可能起润湿作用(液体沿固体表面扩散)等
等;表面愈光滑,即接触斑点愈大,则润湿斑点所需的时间就愈
长。
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