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光入射至一般的非双折射材料的介质表面,计量显微镜
反射时介质引起的光偏振
在许多偏振仪器中均采用光在介质上反射时产生偏振的
现象．
光入射至一般的非双折射材料的介质表面时，反射光与
折射光均部分偏振．在反射光中，电矢量变化的主要方向与
入射面垂直，在折射光中则与入射面平行
在许多偏振仪器中都要研究通过被研究对象的偏振光束
干涉时产生的干涉图样．
这类仪器中的光偏振是在一种称为起偏振镜的偏振装置
中实现的．被研究对象输出的偏振特性用检偏器进行分析．
双折射晶体作为被研究对象，晶体光轴与图面平行而与入射
光束垂直)．
可以采用能给出线偏振光的任何偏振装置(偏振棱镜与
双折射棱镜、反射介电容面的偏光片)作为起偏振镜与检偏
器．
椭圆偏振光直接对准检
偏器，则将因存在许多困难而难子进行光的研究．因为通过
检偏器的仅是从被研究晶体射出的部分光能，这部分光能与
检偏器透过的振动分量相对应，所以，在与晶体主平面垂直
的平面上旋转检偏器时，可观察到的则将仅仅是场的局部发
暗或透明．在对部分偏振光进行研究时观察到的也是同一现
象(检偏器的偏振面与椭圆长轴重合时，强度更大，而与短
轴重合时，则强度最小)．在特殊情况下，当a=b时，旋
转检镝器一般不会改变透射光的强度，如同分析自然光时一
样，看不到干涉现象．
为了创造分析的条件，必须预先将椭圆或圆偏振光转换
为平面偏振光
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