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晶体试样鉴定用光学分析立体显微镜、光学仪器技术
晶体试样
断口上产物情况是很复杂的，如有的很疏松、有的极薄、
有的易挥发、有的还容易水解等。加上断口粗糙不平，给断口
产物分析带来极大的麻烦。
断口产物的分析可分两大类：成分的确定及产物相结构
的确定，前者通常应用化学分析、光谱、带有能谱的扫描电子
显微镜、电子探针、离子探针、俄歇能谱仪等，而产物相结构的
分析则常应用x光衍射仪、德拜粉末相机X光衍射、透射式
电子显微镜选区衍射、高分辨率衍射等。
断口分析基本上可分为二大类，即光学仪器分析及电子
仪器分析。光学仪器常用的有放大镜、立体显微镜、光学显微
镜、实物照相机。电子仪器有X光衍射仪、电子显微镜、扫描
电子显微镜、电子探针、俄歇电子能谱仪、X射线电子谱仪、低
能电子衍射仪、中能电子衍射仪、反射式高能电子衍射仪、场
离子显微镜、离子探针等。
进行微区成分分析。目前最常用的是透射电子显
微镜、扫描电子显微镜及电子探针。电子显微镜主要是应用
透射电子进行成象及形态和结构的研究，
示。对于晶体试样，如金属薄膜等，主要成象是由于试样晶体
的选择衍射(满足布拉格衍射条件)而产生衬度(反差)差异，
可以称为衍衬成象。
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