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膜的结构和形貌计量仪器,膜的表征和性质检测
膜的表征和性质检测方法
很显然，对于功能膜材料，我们首先考虑的是这种材料的性能
。但为了更好地了解其性能产生的机制和探寻膜材料与性能之间的
联系，对其进行一定的表征以确定膜的组成、结构、形貌、完整度
等等则是非常必要的。同时，利用合适的方法对功能薄膜的特性进
行检测，使其功能性得以表达并对其功能的好坏进行评价，也是十
分重要的。
对于一个化学工作者来说，最容易想到的就是各种谱学表征方
法。在这里，我们将简要介绍以下几种最常用的谱学方法：紫外可
见光谱(UV—Vis spectroscopy)、红外光谱(1Rspectroscopy)、拉
曼光谱(Raman spectroscopy)、荧光光谱(fluorescencespectrosc
opy)及光电子能谱(photoelectronspectroscopy)等。这些谱学方
法所反映的主要是分子及其聚集体的行为。通过这些光谱及其与体
相光谱的比较，我们可以推测膜中分子或其聚集体的存在形式及其
与体相材料的区别。
膜的结构和形貌对其性质也有很大的影响。显微技术一向是表
征膜形貌最直接最有效的工具。随着技术的进步，各种显微技术的
发展为我们研究薄膜形貌提供了更多的选择余地。在本章的第二节
，我们将主要介绍光学显微镜(包括布儒斯特角显微镜和荧光显微
镜)、电子显微镜(包括透射电镜和扫描电镜)及扫描探针显微镜在
膜表征上的应用。此外，X射线衍射技术对于多层膜的表征也是最
为常用的手段之一。
对膜的光学、电学及表面性质的常用检测手段。现代科学技术
的发展正在不断地完善原有的检测技术和仪器设备，同时也带来了
许多新方法和新仪器。
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