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显微观察时对垂直一个光轴切片的干涉图的检测
通常情况下我们通过所使用的检测垂直一个光轴切片的
二轴晶体物质的干涉图与斜交光轴切片与平行光轴面切
片的二轴晶体物质的干涉图。
而对于斜交光轴切片二轴晶体物质的干涉图则是一种比
较最常见到的检测晶体物质垂直于光轴切片的现象。
同时对于二轴平行光轴面切片的图像或是与一轴平行光
轴的切片则是一个相交的干涉图像，这样可以直接分辨
出视域区域。
而对于垂直一个光轴切片的物像成像则是一个相当于垂
直于切片一半的干涉图，它是与偏光显微镜中的上或是
下偏振动方向是平行的才行。
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