西城近场光学显微镜量测技术简介

作者：发布时间：2022-07-02 20:58:16点击：1191

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近场光学显微镜量测技术简介

近场光学显微术(SNOM)量测

在光纤所熔拉成的探针，有大约50nm大小的孔径，在结合原子力显微仪技术以及锁相量测技术，

使得近场光学显微镜能够突破光学绕射极限，观察奈米级结构的光电响应。激光耦合进入光纤，以50nm大小的范围局部照射在太阳能电池样品表面，

并且藉由原子力回馈机制，探针光源与表面保持在10nm左右的距离。由各处照射后产生的光电流，经由锁相放大器撷取讯号，

得到表面形貌以及表面各处的光电响应。

近场光学显微术应用在研究有机太阳能电池以及多晶矽薄膜太阳能电池等等

利用近场光学显微术，有机太阳能电池中的材料分离效应以及多晶矽薄膜太阳能电池的晶界电荷分离可以观察到。

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