西城用光学显微镜观察样品有轻微的的痕迹

作者：发布时间：2022-07-02 20:56:35点击：1233

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用光学显微镜观察样品有轻微的的痕迹

是初次尝试 approach 和扫瞄，在尝试 approach 的过程中似乎跟样品有轻微的碰

撞，但后来用光学显微镜观察时并无明显异状。成功 approach 后扫到了表面的图形，

虽然画面并不是很完整，却也有扫到阶梯状的构造

Tip2（撞针）

在撞针后仍想尝试 approach，结果发现因为撞针使针尖弯曲，不再是以”一点”的

型态与样品表面接近以产生穿隧电流，因此仪器无法进行 appraoch 的动作

做针部份：

1. 放钨丝的装置不够完善，没有办法稳稳地固定钨丝，也无法确保钨丝垂直于地面。

→加深固定钨针的沟槽，并且儘可能使其刚好吻合钨针的

大小。同时一开始剪钨针时就应儘可能将其拉直，一点点

的弯曲可能都会使得受力不均匀而无法做出漂亮的 tip

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