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西城电镀试片制备层状显微结构观察金相显微镜

作者: 发布时间:2022-07-02 20:52:59点击:1112

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极细晶材料中,虽然可以藉由晶粒细化得到较高的强度,但同时也会降低材料的延展性。

过去研究指出具有双峰晶粒径分布的纯铜,同时具有高强度及较佳的延展性。

利用电镀制备层状结构的纯镍试片,藉由控制镀层的晶粒径得到具有双峰晶粒径分布的显微组织,
探讨具有双峰晶粒径分布试片的机械性质。由EBSD的分析结果可知,本实验透过电镀参数的调控,
成功制备出粗晶与细晶的面积比为3~ 0.3的试片。其中细晶区平均晶粒径约为0.5 μm,粗晶区平均晶粒径更大达6.0 μm。拉伸试验结果显示,

于次微米粒径晶粒中掺杂约35 %的微米晶粒,材料可拥有较佳的强度和延展性,但是当微米粒径晶粒面积比为62.5 %,其机械性质则与一般电镀试片差异不大。
对纯镍试片而言,双峰晶粒径分布对于延展性的提升只有颈缩后伸长量(post uniform elongation)的部分。此外,本研究发现当电镀之层状镀层试片,
在经由适当的温度进行退火热处理之后,其强度及延展性皆会增加
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