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透射电子显微镜能够观察试样内部的显微组织
透射电镜中的成像机制大体上可分为三类﹐它们相应于吸收衬度像﹑衍射衬度像和相位衬度像。
当电子束穿过薄膜试样时﹐膜上各处的质量厚度不一﹐对电子的散射能力各异。质量厚度大的地方对电子的散射角大﹐
反之亦然。这样﹐物镜后焦面上的光阑就把散射角大的电子吸收掉﹐使像上出现衬度。如此形成的像称为吸收衬度像﹐
它能反映 出试样内部的显微组织。早期的透射电镜只能观察吸收衬度像。对于大块固体材料﹐只好用有机材料把固体表面的形貌複制下来﹐
做成表面复型。复型的电子显微像能反映出固体表面的形貌。50年代中期发展了能间接地提供晶体缺陷信息的衍射衬度像﹐
简称衍衬像。衍衬像是用晶体的衍射电子束或透射电子束成像﹐
像衬度源于电子衍射波 (或 透射波) 振幅的变化。电子束被薄晶体试样衍射后﹐
试样下表面不同地点的衍射波振幅(及强度)分布对应于晶体各部分不同的衍射能力。当晶体中存在缺陷时﹐
缺陷区域的衍射能力不同于完整区域﹐使各衍射波(从而使透射波)的振幅(及强度)分布不均匀﹐反映出晶体缺陷分布的情形。
这就是衍衬像成像机制的简单原理。衍衬像的发展还使透射电镜增 添了进行电子衍射观察的功能﹐
于是使原来互不相干地发展着的两个学科──电子显微学和电子衍射──汇合起来。当试样薄至 100埃以下时﹐
电子穿过试样后﹐波振幅变化甚微﹐可忽略不计。此时像的衬度源于电子波的相位变化﹐形成的像称相位衬度像。
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