镀层测厚仪与之前相比的优点

镀层测厚仪是北京老上光科技新研发的新产品，是德国EPK/易高等同类产品的替代产品，与之前涂层测厚仪相比有以下主要优点：　
 　 1. 测量速度快：测量速度比其它TT系列快6倍；
　　2. 精度高 ：本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上能达到A级的产品,其精度远高于上光等国内同类.比EPK等进口产品精度也高；
　　3. 稳定性：测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品；
　　4. 功能、数据、操作、显示全部是中文测量方法
　　
     覆层厚度的测量方法主要有：楔切法，光截法，电解法，厚度差测量法，称重法，X射线荧光法，β射线反向散射法，电容法、磁性测量法及涡流测量法等。这些方法中前五种是有损检测，测量手段繁琐，速度慢，多适用于抽样检验。
　　
     X射线和β射线法是无接触无损测量，但装置复杂昂贵，测量范围较小。因有放射源，使用者必须遵守射线防护规范。X射线法可测极薄镀层、双镀层、合金镀层。β射线法适合镀层和底材原子序号大于3的镀层测量。电容法仅在薄导电体的绝缘覆层测厚时采用。

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