显微镜在哪买Am可听石墨烯：在大多数样品中小于

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     石墨烯分离于2004。由于石墨烯独特的结构、物理和化学性质，近十年来它在各个领域的应用呈指数级增长，同时，不同方法制备和合成石墨烯也取得了不同程度的成功。离子（CVD）以及利用机械、化学或电化学方法将石墨烯剥离成石墨烯片已经取得了巨大成功。到目前为止，世界上有数百家公司声称他们生产的石墨烯是一种仅存在十多年的材料。这个巨大的进步确实令人惊讶。但是这些公司生产的合成石墨烯的质量如何
    
     最近，新加坡国立大学的安东尼奥·H·卡斯特罗·内托教授和获得诺贝尔石墨烯奖的康斯坦丁·S·诺沃塞洛夫共同撰写了《先进材料》一书，对来自美洲、亚洲和欧洲的60家公司的油墨样品进行了分析。led石墨烯的性能变化很大，对于大多数应用来说并不是更好的，大多数公司不是生产石墨烯，而是生产石墨烯微芯片。折叠式的要求，是建立一个健康可靠的全球石墨烯市场的途径。
    
     从图1中可以清楚地看到，大多数公司样品的石墨烯含量小于10%，没有样品的石墨烯含量超过50%。完美的结晶石墨烯应该有的SP2键，然而，所研究的样品中没有一个含有超过60%的SP2键。目前市场上几乎没有ISO定义的高质量石墨烯（单层碳原子），这给过去十年的石墨烯热潮泼了冰水。但这似乎解释了为什么在实际中石墨烯如此稀少，因为石墨烯和石墨的结构特征相当明显。更令人不安的是，没有统一的标准，少数不受欢迎的商人一起卖石墨烯和石墨（毕竟都是黑色的），而利用石墨烯牟取暴利将是一场灾难。
    
     图1。a）与不同石墨烯含量样品对应的样品数b）对应于AFM层数（d50和d90）的公司数c）对应于石墨烯层数的样品数d）对应于不同的石墨烯样品的数目e）不同碳含量样品（由元素分析获得）的公司数量。f）对应于不同C-C SP2含量样品的样品数（XPS分析）。
    
     缺乏对优质石墨烯的适当表征阻碍了基本上依赖于石墨烯的应用的发展。原子力显微镜(AFM)可以测量石墨烯层压的厚度信息。光学显微镜可以提供关于石墨烯尺寸的信息。拉曼光谱可以提供关于石墨烯结构完整性的信息，并且可以区分GO或rGO的存在。X射线光电子能谱（XPS）可以用来测量碳含量来校准石墨烯的纯度。扫描电子显微镜和透射离子电子显微镜可以提供样品形状信息，这些基本信息将为标准的统一奠定基础。
    
     国际标准化组织(ISO)将纳米材料定义为具有纳米级外部尺寸(长度范围约为1-100nm)或具有纳米级内部结构或表面结构的材料。2D材料是厚度在几纳米或更小的材料。根据定义，石墨烯是最的二维材料和在实验室中个被分离的二维材料。与石墨烯相比，氧化石墨烯（GO）的晶格对称性和还原性图形。在合成过程中，氧化烯（RGO）被破坏，碳原子的振动频率受到影响。GO和RGO的结构被大大破坏，这对石墨烯的性能是不利的。市场上大多数所谓的石墨烯产品就是这两种产品。
    
     石墨烯的物理性质对堆叠层的数量非常敏感，层数越小，晶体尺寸越大，堆叠越接近单层石墨烯，因此层叠层数是石墨烯定义的关键因素。从物理角度来看，这些定义是任意的，但石墨烯标准的缺乏和市场上销售的材料质量的低下阻碍了石墨烯应用的发展。不同厂家，为买家提供可靠的产品，从而形成良性循环，加快石墨烯的应用和发展。
    
     由于CVD具有优良的可控性和可扩展性，被认为是制备大面积、高质量石墨烯薄膜的有效方法，为了控制石墨烯的生长，可以获得大面积、均匀碳层、快速生长和低合成温度的石墨烯。目前，科研和工业已作出巨大努力，科学家和初创企业正在进行大规模生产，但实验室和工业规模上合成的石墨烯的质量差异很大。讨论了石墨烯薄膜的制备工艺、设备及关键工艺参数，以及大规模生产的均匀性和石墨烯薄膜的快速表征，这对于批量生产的质量控制具有重要意义。
    
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