藻类显微镜照片电子显微镜实验室研究人员高鹏
作者: 发布时间:2022-07-02 17:39:49点击:2337
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基于高空间分辨率(45πm,目前更高纪录)的定量环形开场成像(ABF)技术检测了锆钛酸铅(PbZr0.2Ti0.8O3)铁电薄膜的异常原子量。北京大学电子光学实验室,日本和台湾的合作者。结构。铁电薄膜的表面结构对铁电数据的存储、传感、表面化学等应用有重要影响。由于缺乏有效的表征方法来研究这些复合绝缘氧化物的表面性质,对铁电材料的表面原子结构知之甚少。在美国和日本,基于图像定量分析和原位动态检测等先进电子显微技术的铁电材料n反转。他和他的合作者系统地报道了界面对畴成核{Nat.共同体。2, 591(2011);科学334, 968(2011)},缺陷与畴壁之间的相互作用{nAT。共同体。4, 2791(2013);Nat。共同体。5, 3801(2014)},畴稳定性{ Adv. Mater〉。24, 1106(2012)}。
他们的最新工作是利用环形开场成像技术(图1)在Pimi(0.001nm)上测量阴离子和阳离子之间的键长,从而计算表面结构的精细畸变。结果表明,PbZr0.2Ti0.8O3的表面原子结构是复杂的。在不同极化方向的铁电畴中存在明显差异。这些发现为铁电薄膜、铁电陶瓷、铁电表面催化等应用提供了重要信息。基于开环成像技术的绝缘氧化物表面结构的研究将极大地提高人们对这些复合功能氧化物材料物理性质的认识。北京大学C旋光显微镜实验室、中央分部青年项目、2011个协同创新中心和自然科学基金会。
北京大学大型公共仪器平台电子光学与电子显微镜实验室安装了两台世界上更先进的球面像差校正透射电子显微镜(图2),该实验室由博士院于大鹏院士领导。集成电路,在2015年底:Nion的U-HERMES200的单色仪(能量分辨率8meV)和FEI的双球差校正的泰坦立方体Themis G2 300(空间分辨率60pm)。发展新型电子显微镜技术在材料科学中的应用,进一步提高大型高端仪器的管理水平,提高电子显微镜平台服务的效率和质量。
图1(a)具有环形光场的PbZr0.2Ti0.8O3薄膜的表面结构;(b)极化下畴的表面结构。表面附近Pb-O键长的变化趋势表明在s附近存在铁电死层和180度带电畴壁。表面结构。(c)极化向上畴的表面结构。Pb-O键长在表面附近的演化表明没有明显的表面重塑。(d)畴的表面结构与表面平行。铁电死层和90度带电畴壁靠近表面。
图2为北京大学电子显微镜实验室获得的两台电子显微镜的校正图。(a)FEI双球差校正电子显微镜Titan Cu.Themis G2 300,具有DPC、EDX、EELS、Lorentz等功能,电压范围60-300kV,空间分辨率o(b)Nion单色像差校正扫描透射电子显微镜U-HERMES200.电压范围40-200kV,更高能量分辨率为8meV,更高空间分辨率为60pm。
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