显微镜下的世界红外物理重点实验室在检测

大家好，这里是老上光显微镜知识课堂，在这里你可以学到所有关于显微镜知识，好的，请看下面文章： 自从发现电子学一个多世纪以来，人类社会对它的依赖程度越来越高。今天，它已成为微电子和光电子技术的物理基石，随着微电子器件尺度上的质量定律减小到纳米尺度，对电子运动定律的理解将面临从平衡理论的发展。正如在基础能源科学咨询委员会的报告中指出的，当今科学面临的五大挑战之一是非平衡态的特征化和操纵，尤其是那些远离平衡的状态。根据理论预测，微电子器件中电流更大的位置将是电子温度更高的地方。中国科学院上海理工大学红外物理重点实验室研究员陆伟复旦大学研究员安正华利用热电子非平衡输运的实验探测技术，共同研究非局域热电子能量耗散的空间成像。电子并非局限于电流的更大位置，而是明显偏离电流方向，电子的温度比晶格温度高出许多倍。本文研究的更大挑战来自于热电子的非平衡输运实验技术。其基本原理是，由非平衡电子的强烈电流波动引起的散粒噪声将直接导致近场甚长波红外辐射。高灵敏的近场红外探测只能测量非平衡电子性质，从而可以直接观测到纳米结构中电子的非平衡甚至远非平衡性质，为纳米结构的研究提供了独特的途径。2008年3月29日，《科学》杂志在线发表了散粒噪声引起的局部热电子能量耗散（DOI：10.1126..aam9991）。它将在理解和处理非平衡热电子，从而增强装置功能方面发挥重要作用。中国，上海科学技术委员会的重大项目，中国科学院海外科学家项目。
    
     描述了利用扫描噪声显微镜（SNOIM）对超高频（~（21.3）THz）噪声的纳米级成像。给出了扫描噪声显微镜（A）的实验装置。（B）GaAs/AlGaAs量子阱纳米器件的电子限制区的SEM图。通过高度调制模式获得近场信号，其中颜色代表电子的等效温度。（E）近场信号与高度相关，而近场信号通过电压调制模式获得。
    
     噪声强度随偏置电压的增加而变化。（A-F）针尖高度调制方式得到的二维成像图。（G）y方向（平行于{100}），一维近场信号随位置变化而变化。（H）噪声强度随偏置电压的变化。IELD（圆和三角点表达式）和远场（平方点表达式）。
    
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