在线留言
网站地图 
RSS
您好，欢迎访问老上光仪器总厂网站！
联系地址：北京市海淀区上地信息路信息产业三街
联系电话 
152 0116 0776 / 400-811-7895
奥氏体晶体粒度的测定
对于通常情况下我们所使用的金相试样的测试，则就
是一个对奥氏体晶体粒度的测定的所常用的方法。
而对于奥氏体晶体粒度的测定所常用的方法则可以分
为两种，一是比较法，另一种则是计算法。
而一般情况下对于金相试样奥氏体晶体粒度的测定则
是使用比较法进行测定鉴别奥氏体晶体粒度的测定。
就是把晶体样品标本直接放到显微镜下进行奥氏体晶
体粒度的检测分析研究，这时再选择出具有代表性的
奥氏体晶体粒度进行比较即可。
网站网友点击量更高的文献目录排行榜：
点此链接
关注页面底部公众号，开通以下权限：
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官主账号！ 
客服1