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正交偏光显微观察需要注意的
通常情况下我们使用偏光显微镜进行光轴切片干涉时，
则把一个斜交光轴和切片的光轴位置是倾斜的，而这时
光轴的切片平面则不在视域区域内的。
我们可以分别分二轴晶体物质的干涉图为垂直锐角等分
线切片二轴晶体物质的干涉图与垂直钝角等争线切片二
轴晶体物质的干涉图。
而对于斜交光轴切片二轴晶体物质的干涉图则是一种比
较最常见到的检测晶体物质垂直于光轴切片的现象。
这主要则表现为物质的单折射率与双折射率上面，而对
于锥光镜鉴定晶体光学性质，则主要是鉴定晶体的轴性
与兴性以及切片的类型与光轴角等。
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