在线留言
网站地图 
RSS
您好，欢迎访问老上光仪器总厂网站！
联系地址：北京市海淀区上地信息路信息产业三街
联系电话 
152 0116 0776 / 400-811-7895
零部件构造轮廓测量显微镜,表面分析样品
一般说来，场输入只能研究为数不多的特定系统，但对这些系
统它确实能提供重要信息。
在表面分析这个范畴内还应提到一种方法，这就是当气体吸附
或解吸时测量薄膜电导的变化，在这里，前提条件是吸附的气体
要同表面上的导电电子相互作用，因而改变有效载流子的数目，
造成薄膜电阻或电导的变化，为了使这种作用更为显著，显然膜
必须很薄，厚度绝不能超过几百埃，而且超薄越好，可以看出，
这种方法非常简单，的困难就是得到一个可控制的，了解得
相当清楚的薄膜，厚度更好小于100-200埃，虽然从零部件，造
价等来看，它是最简单的方法之一，但上述困难影响很大，使这
种方法的利用颇受限制，另外它与前面谈到的测量由于吸附单层
造成的磁饱和变化方法一样，有许多相同的基本问题，这种方法
还能同其它方法联用，并在某些系统中作了成功的尝试。
虽然断裂在地质理论和实际工作中都很重要，因为断裂对矿床
普查，勘探和开发有很大的影响，然而，在大构造学中还末拟定
出足够严密的与断裂有关的概念和术语，在确定苏联大部分领土
内大型建议工作的价值时，要评价在震危险性，这一工作在很大
程度上都与正确了解断裂的现代发展有关。
网站网友点击量更高的文献目录排行榜：
点此链接
关注页面底部公众号，开通以下权限：
一、获得问题咨询权限。
二、获得工程师维修技术指导。
三、获得软件工程师在线指导
toupview,imageview,OLD-SG等软件技术支持。
四、请使用微信扫描首页底部官主账号！ 
客服1